Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀 Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀在大多數(shù)應(yīng)用中都可應(yīng)用35型和35DL型 35型和35DL型超聲波測(cè)厚儀使用頻率范圍為2.25~30 MHz的探頭,因此這些通用型測(cè)厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測(cè)厚。一般來(lái)說(shuō),探頭頻率越高而直徑越小,對(duì)較薄或彎曲的工件測(cè)量的精度越高。 美國(guó)泛美超聲波測(cè)厚儀系列的特性 所有型號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)配置均包含聲速和減縮率測(cè)量。 • 可測(cè)厚度范圍寬:0.08 mm~635.0 mm(0.0030 in.~25.0 in.),取決于儀器和材料。 • 采用接觸式、延遲線式、水浸式探頭。 • 自動(dòng)調(diào)用功能可調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置。 • 手持式,僅重0.24公斤(8.5盎司)。 • zui小/zui大模式 • 高-低報(bào)警 • 英制和公制顯示(英寸或毫米) • 多種語(yǔ)言用戶界面 • 長(zhǎng)效電池 Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀應(yīng)用 • 從薄到厚的大多數(shù)材料 • 薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材 • 薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器、鋼卷材及機(jī)加工部件 • 汽缸孔、渦輪葉片 • 玻璃燈泡、瓶子 • 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料 • 半徑較小的曲面部分或容器 • 分辨率可達(dá)0.001毫米或0.0001英寸 | 利用減縮率,可測(cè)量金屬材料因彎曲而變薄的臨界厚度值。 | Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀減縮率測(cè)量 所有儀器型號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)配置都具有差分模式和減縮率模式。差分模式顯示實(shí)測(cè)厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化。縮減率計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型的應(yīng)用是對(duì)為制造車(chē)身面板而彎曲成形的鋼板進(jìn)行測(cè)量。 | 可直接顯示聲速數(shù)值的聲速測(cè)量模式 | Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀材料聲速測(cè)量 所有Panametrics 35型儀器均具有測(cè)量材料聲速的性能。在材料聲速與其它特性可能有關(guān)系的應(yīng)用中,這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型應(yīng)用包括監(jiān)測(cè)金屬鑄件的球化程度,以及監(jiān)測(cè)復(fù)合材料/玻璃纖維材料的密度變化。Olympus提供一個(gè)數(shù)字卡尺,用于自動(dòng)傳輸測(cè)量厚度值。 Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀自動(dòng)調(diào)用功能可簡(jiǎn)化測(cè)量操作 自動(dòng)調(diào)用功能可使厚度測(cè)量簡(jiǎn)化。在選擇了任何一種所存的探頭時(shí),35型儀器都可調(diào)用相關(guān)內(nèi)置探頭的所有參數(shù)。 Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置包括大多數(shù)常用的探頭。 Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀存儲(chǔ)的自定義設(shè)置在標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置不能滿足特殊的應(yīng)用需求時(shí),這些測(cè)厚儀可以創(chuàng)建、存儲(chǔ)和調(diào)用多達(dá)20個(gè)自定義設(shè)置(35型和35HP型可調(diào)用10個(gè)自定義設(shè)置) Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀配合M208探頭應(yīng)用 | 在這種基本應(yīng)用中不可使用測(cè)微計(jì)。然而,可以使用配有M208探頭的35型儀器,在不損壞玻璃的情況下,進(jìn)行校準(zhǔn)精度達(dá)0.001毫米(0.0001英寸)的厚度測(cè)量。 | | 超薄鋼板(0.10毫米或0.004英寸)的厚度和波形。 | 分辨率(通過(guò)鍵區(qū)可選): | 低: | 0.1 mm | (0.01 in.) | 標(biāo)準(zhǔn): | 0.01 mm | (0.001 in.) | 高: | 0.001 mm | (0.0001 in.) (35型和35DL型) | 渡越時(shí)間測(cè)量范圍:0.0 µs~109.5 µs 渡越時(shí)間分辨率:固定在000.01 µs。 測(cè)量更新速率:4、8、16或zui大頻率值(16~20 Hz,因應(yīng)用和測(cè)量模式不同而不同)。 探頭頻率范圍:2.25 MHz~30 MHz(35型和35DL型) 0.5 MHz~5.0 MHz(35HP型和35DL-HP型) zui小/zui大模式:顯示當(dāng)前厚度、zui小厚度或zui大厚度(視設(shè)置而定)。 顯示保持/空白:顯示上一個(gè)讀數(shù)后,屏幕顯示空白或者持續(xù)顯示這個(gè)讀數(shù)。 報(bào)警模式:可編程高/低報(bào)警設(shè)定點(diǎn),帶有視聽(tīng)報(bào)警指示器。 差分模式:顯示實(shí)際測(cè)量值和參考值之間的厚度差。 縮減率模式:顯示厚度數(shù)值及實(shí)測(cè)厚度與參考厚度的百分比差值。 自動(dòng)調(diào)用功能:自動(dòng)為各種默認(rèn)的和自定義的探頭設(shè)置調(diào)節(jié)內(nèi)部參數(shù)。 Panametrics 35DL超聲波測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)附件 手腕帶、3節(jié)AA電池、試塊、探頭線纜、耦合劑、便攜箱、指導(dǎo)手冊(cè)、兩年有限保修。 |